| Новое
оборудование: |
ООО СИГМ-ПЛЮС
предлагает новые приборы для анализа поверхности фирм:
И недорогие приборы фирм:
Physical Electronics и Varian
бывшие в употреблении, восстановленные и обновленные (refurbished)
фирмами " PCS-GERSTL" (Германия) и "EUROVAC" (Швеция)
 | ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННЫЕ СПЕКТРОМЕТРЫ |
| РЕНТГЕНОВСКИЕ ФОТОЭЛЕКТРОННЫЕ СПЕКТРОМЕТРЫ |
| ВТОРИЧНО-ИОННЫЕ МАСС-СПЕКТРОМЕТРЫ |
| ДИФРАКТОМЕТРЫ (ДБЭ и ДМЭ) и другие приборы для анализа поверхности |
Новое предложение!
ВОССТАНОВЛЕНИЕ и МОДЕРНИЗАЦИЯ
Отечественных и импортных
оже-электронных и рентгеновских фотоэлектронных (ЭСХА)
спектрометров старых моделей:
09-ИОС, ЭСО-3, ЭС-2301, ЭС-2401, ЭС-3201, Физикал Электроникс, Рибер и др.
http://www.siplus.ru/index.php?id=256
|
Вакууметр SEO VAC - Вакууметр состоит из измерительного блока,датчиков давления и комплекта кабелей
|
Ультрамикротом SEO UMC - Ультрамикротом предназначен для получения ультратонких и тонких срезов с твердых объектов при комнатной температуре для электронно-оптических исследований в биологии, медицине, химии, минералогии, металловедении и других областях
|
Просвечивающий электронный микроскоп SEO TEM 100 kV Оригинальный компактный дизайн, Простота и удобство в управлении,Автоматизация рабочих и настроечных режимов на базе промышленного процессора,Цифровая система записи изображений в РС на базе CCD камеры
|
Системы вывода и обработки изображения на базе CCD камер - Системы могут быть установлены на любом просвечивающем электронном микроскопе отечественного или зарубежного производства с доработками мест установки и поставкой дополнительных узлов и деталей.
|
Модернизация просвечивающего электронного микроскопа - Если у Вас есть старый просвечивающий электронный микроскоп и нет возможности заменить его на новый , мы можем провести полную или частичную модернизацию Вашего прибора.
|
Растровый электронный микроскоп МикроСкан МС-20 является малогабаритным, полностью компьютеризированным прибором второго поколения и имеет следующие модификации:
|
|
|
 |
|
 08 Апреля 2010
16 Октября 2009
07 Января 2009
21 Апреля 2008
18 Апреля 2008
|
|
 |
 ХV Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2007)
г. Черноголовка, 5-7 июня 2007 г.
 XXI РОССИЙСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
г. Черноголовка, июнь 2006 г.
XIV Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XIV РЭМ - 2005) с участием иностранных ученых и ученых из стран СНГ.
пос. Черноголовка,июнь 2005 г.
 XX Российская конференция по электронной микроскопии (XX РКЭМ) с участием иностранных ученых и ученых из стран СНГ.
пос. Черноголовка,июнь 2004 г.
 XIII РОССИЙСКИЙ СИМПОЗИУМ ПО СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ
пос. Черноголовка,июнь 2003 г.
|
|
