главная
события
XIII РОССИЙСКИЙ СИМПОЗИУМ ПО СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ
Научный совет РАН по электронной микроскопии
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Институт кристаллографии РАН
при поддержке
Министерства Промышленности, науки и технологий Российской Федерации
Российской Академии наук
Российского Фонда Фундаментальных исследований
организуют
XIII РОССИЙСКИЙ СИМПОЗИУМ ПО СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ
пос. Черноголовка,июнь 2003 г.
|
|
Научный совет РАН по электронной микроскопии сообщает, что в июне 2003 года в пос. Черноголовка Московской области будет проведен XIII Российский симпозиум по сканирующей электронной микроскопии, зондовой микроскопии и аналитическим методам исследования (РЭМ-2003) с участием иностранных ученых. Продолжительность Симпозиума 3 дня. Симпозиум будет посвящен развитию и применению сканирующей микроскопии (электронной, оптической, туннельной, атомно-силовой и др.) в различных областях науки и техники.
|
Научная программа Симпозиума предусматривает следующие направления:
Приборы и электронная оптика
Сканирующая туннельная, атомно-силовая и оптическая микроскопия
Локальный анализ состава и структуры твердых тел
Применения в физике, материаловедении, химии, геологии, микро- и нанотехнологиях
Диагностика полупроводниковых материалов и приборов. Электронно-лучевая литография
|
Инструкция по оформлению тезисов доклада
Объем тезисов не должен превышать 1 страницу машинописного
текста, включая рисунки. Текст тезисов должен быть представлен готовым к публикации, а именно, отпечатан на белой бумаге форматом А4 (желательно шрифтом Times New Roman в редакторе Word 6 или 7). Заголовок - жирным шрифтом, размер 14, ниже: авторы - шрифт прямой, размер 12; названия организаций - курсивным шрифтом, размер 12. Шрифт текста - прямой, размер 12, интервал 1.5. Размер рамки 165х260 мм.. Рисунки, включая фотографии, желательно выполнить на компьютере и встроить в текст. Список литературы оформляется в соответствии с международными стандартами. Тезисы представляются отпечатанными в 2-х экземплярах (первый - для публикации, второй - для программного комитета).
Сроки представления тезисов докладов и карточки-заявки
Тезисы докладов с письмом от организациии и заполненная карточка-заявка должны быть представлены не позднее 15 февраля 2003 года по адресу:
119333, Москва, Ленинский проспект, 59
Оргкомитет РЭМ-2003
Электронный вариант тезисов необходимо направлять по электронной почте в ИПТМ РАН: yakimov@ipmt-hpm.ac.ru или на дискетах по адресу Оргкомитета, указанному выше.
Тезисы докладов, представленные позднее этого срока или с нарушением правил оформления, рассматриваться не будут.
Тезисы докладов предполагается издать к началу Симпозиума.
Авторы принятых докладов и желающие принять участие в работе Симпозиума, получат именные пригласительные билеты
до 15 апреля 2003 г.
|
Организационный взнос:
Величина оргвзноса приблизительно равна 500 руб.
Оргвзнос включает расходы на публикацию извещений,
программ, пригласительных билетов, публикацию тезисов,
аренду помещений и т.д. Адрес перевода оргвзноса будет
указан в пригласительном билете.
|
Проживание:
Проживание
Участникам Симпозиума предоставляется гостиница РАН в
пос. Черноголовка . Если Вы планируете проживать в
гостинице, просим Вас сообщить об этом Оргкомитету
Симпозиума в карточке-заявке.
|
Секретариат:
Гольцова Н.П. тел. (095) 135-02-98
Смирнова М.В. тел. (095) 135-53-10
E-mail: gora@ns.crys.ras.ru
Факс: (095) 135 10 11
Срок подачи заявок истек |
|
 |
Последние события:
 ХV Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2007)
г. Черноголовка, 5-7 июня 2007 г.
 XXI РОССИЙСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
г. Черноголовка, июнь 2006 г.
XIV Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XIV РЭМ - 2005) с участием иностранных ученых и ученых из стран СНГ.
пос. Черноголовка,июнь 2005 г.
 XX Российская конференция по электронной микроскопии (XX РКЭМ) с участием иностранных ученых и ученых из стран СНГ.
пос. Черноголовка,июнь 2004 г.
 XIII РОССИЙСКИЙ СИМПОЗИУМ ПО СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ
пос. Черноголовка,июнь 2003 г.
|
|
