Школа молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов»

Организаторы:

Научный совет РАН по электронной микроскопии; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН;

Институт кристаллографии имени А.В.Шубникова РАН.

Лектора

1. Шкловер В.Я. Коррекция сферической и хроматической аберрации и субангстремная электронная микроскопия.

2. Киселев Н.А. Структура нанокомпозитов 1D кристалл@ОСНТ

3. Васильев А.Л. Электронная микроскопия и микроанализ новых алюминиевых аморфных и нанокристаллических сплавов.

4. Гутаковский А. Применение высокоразрешающей электронной микроскопии для исследования низкоразмерных структур.

5. Бухараев А.А. Сканирующая зондовая микроскопия поверхности нанокатализаторов.

6. Якимов Е.Б. Исследование локальных электрических свойств
   полупроводниковых материалов и структур методами РЭМ.

7. Иванов С.А. Исследование наноматериалов и наноструктур с
   помощью 200 кВ ПЭМ с корректором сферических абераций.

8. Шкловер В.Я. Что такое сфокусированный ионный пучок и его роль в нанотехнологии.

См. сайт http://www.ipmt-hpm.ac.ru/sem/