главная
новости
2010
Апрель
08 Апреля 2010
Научно–практический семинар
ООО «ОПТЭК - эксклюзивный представитель концерна Carl Zeiss AG в России и странах СНГ совместно с «Oxford Instruments NanoAnalysis» имеют честь пригласить Вас на научно–практический семинар
«3D-EBSD современные технологии получения 3-х мерных изображений, анализа фазового состава, структуры и текстур кристаллических материалов методом дифракции отраженных электронов в системах с двойным пучком»
В программе семинара лекции Др. Петера Гнаука (Dr. Peter Gnauck) – менеджер по продукту (Carl Zeiss NTS GmbH) и Др. Фрэнка Бауера (Frank Bauer) – специалист по применению оборудования (Oxford Instruments NanoAnalysis, UK), а также практические занятия на аналитическом автоэмиссионном электронно-ионном растровом электронном микроскопе CrossBeam 1540XB/CrossBeam 1540EsB.
Семинар будет проходить с 20 по 22 апреля 2010 года:
20 апреля с 10.00 до 17.00,
21 и 22 апреля с 10.00 до 17.00
по адресу:
Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова (ИМЕТ), РАН, Россия, г. Москва, Ленинский пр-т., 49
Для участия в семинаре необходимо заполнить регистрационную форму и отправить её по факсу + 7 (495) 933 51 55
Скачать регистрационную форму
|
 |

|
Последние новости:
08 Апреля 2010
16 Октября 2009
07 Января 2009
21 Апреля 2008
18 Апреля 2008
|
Архив новостей:
|
|
| |
 |

 |
 |
|

подписаться
на наши новости:
|
|
 |
 |
|
|
|
 |
©2002 - Microscopist.ru
- портал микроскопистов
|
|